软磁直流测量装置型号:2010SD/K50 库号：D135350

软磁直流测量装置 型号:2010SD/K50

库号：D135350

软磁直流测量装置的详细介绍
MATS－2010SD软磁直流测量装置自动测量软磁材料在静态（直流）条件下的基本磁化曲线和磁滞回线，准确测量起始磁导率μi、大磁导率μm、饱和磁感应强度Bs、剩磁Br、矫顽力Hc和磁滞损耗Pu等静态磁特性参数。
MATS－2010SD软磁直流测量装置采用Windows测量软件，使用方便。产品符合标准GB 3656-83、GB
3657-83、GB/T 13012-91、GJB 937-90，行业标准SJ/T 10281-91和标准IEC 60404-4、IEC 404-7的规定。
MATS－2010SD软磁直流测量装置是依照冲击法的测量原理，采用计算机控制和A/D、D/A相结合，以电子积分器取代传统的冲击检流计，实现微机控制下的模拟冲击法测量，不仅可以消除经典冲击法中因使用冲击检流计所带来的非瞬时性，而且测量精度高、速度快、重复性好、可消除各种人为因数的影响，为研究材料磁化过程机理提供的依据。
一、 GY13-MATS－2010SD软磁直流测量装置主要特点
测试样品的种类：软磁铁氧体、坡莫合金、非晶、纳米晶、铁粉芯、电工纯铁和硅钢片。
测试样品的形状：环形、E形、U形等闭路样品，条（棒）形、片状等开路样品。
闭路样品直接绕线测量：样品、磁化线圈（N1）、测量线圈（N2）共同组成一个空载变压器。
通过测量磁化电流来测量磁场强度，磁场锁定精度高达0.1%。
采用电子积分器来测量磁感应强度，积分器的零点漂移通过软件自动修正。
测量开路样品需选配螺线管或磁导计。
测试方法：模拟冲击法和磁场扫描法。
采用模拟冲击法测量基本磁化曲线，可准确测量磁化曲线上的磁特性参数：μi、μm、Bs、任意一点的μ值。
软磁直流测量装置 ZX31-2010SD/K50

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