数字式四探针测试仪

型号:SZ1-SX1934B 库号：M396789

产品特点
仪器由主机、测试探头(可选配测试台)等部分组成，测试结果由数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头高分子材料和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长。仪器具有测量高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。(自动调零

测量范围电阻率：10-2～102Ω-cm；方块电阻：10-1～103Ω/□；电阻：10-3～9999Ω
可测半导体材料尺寸直径：Φ15～100mm；长(或高)度： ≤400mm
电源
功耗：<1W；电源适配器：输入:220V±10% 50Hz；输出:DC5V±10%
外形尺寸主机 170mm(D)×130 mm(W)×50mm(H)

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