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光学膜层厚度测量控制仪
  • 产品名称:光学膜层厚度测量控制仪
  • 产品型号:CNYY6-CDNY-03AM
  • 所属类别:实验室设备
  • 发布时间:2015-08-05
  • 已获点击:307
详细说明
光学膜层厚度测量控制仪 型号:CNYY6-CDNY-03AM
库号:M398210   
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术,因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。
主要性能指标及技术指标
主信号通道:
信号输入方式:单端交流输入
输入量程:0.5mV-500mV
信号频率范围:1KHz±5%
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端)
性误差: ≤0.1%
零点时源: ≤0.2%/h
参考信号通道:
信号输入方式:单端交流输入
输入幅度:20-700mV
频率范围:≥320。

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