产品展示
详细说明
激光平面干涉仪 型号:
60-LP库号:M107501 特长:
1、紧凑结构,小型化;
2、防尘效果好,适合车间加工过程检验;
3、操作方便、使用简单;
※用途:
1、 批量检测平面光学元件表面面型测量。
2、 平面元件光学均匀性测量。
※规格:
测量口径
Φ60mm
测量方式
菲索干涉原理
显示方式
CCD显示
标准参照镜面形
p-v:λ/20
光源
半导体激光器(635nm)
监视器
9"
电源
210~230V 40~60Hz
工作温度
20°C~25°C
尺寸
340×280×720mm
重量
约30Kg
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TEL:18101382572
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