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光学膜厚控制仪 型号:MN66-GM-X03
  • 产品名称:光学膜厚控制仪 型号:MN66-GM-X03
  • 产品型号:MN66-GM-X03
  • 产品价格:1
  • 所属类别:其他仪器仪表
  • 发布时间:2017-08-23
  • 产品产地:中国
  • 已获点击:317
详细说明
光学膜厚控制仪 型号:MN66-GM-X03
库号:M12664  
真空镀膜,膜厚控制仪
本仪器是相位锁定放大器,用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道,参考信号通道和先进的四阶低Q滤波技术组成,有很强的谐波抑制能力和动态储备,能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。
采用进品高精密元件制作和DAAS是数字频谱分析系统测试,确保仪器具有可靠的质量和优越的性能。
高稳定性。操作简便,实用性强
技术参数:
GM-X03
主信号通道:电压单端输入
满程灵敏度:0.5mV~500mV
频率范围:1KHz,±5%
锁相噪声:≦4nV
线性误差:≦1%
零点漂移:0.2%(小时)
参考信号通道:电压单端输入
输入幅度:20mV~700mV
频率范围:1KHz,±5%
相位锁定范围:≧320°
电源电压:220VAC/50Hz
外形尺寸:宽482x高89x深322(mm)/标准2U面板
净重:7.5Kg

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