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产品说明:
※特长:
■适用于车间加工过程中的检测
■能进行整盘检测
※用途:
■平面光学元件面形测量
■晶体、光盘、磁头等元器件面形测量
■平面元件光学均匀性测量
※规格:
测量口径
Φ150mm
测量方式 菲索干涉原理
显示方式 CCD显示
标准参照镜面形 p-v:λ/20
光源 氦氖激光器
波长
632.8nm
监视器 9"
电源 210~230V 40~60Hz
工作温度 20°C~25°C
尺寸
450×400×800mm
重量 约80Kg
产品质保:质保一年在,终身售后服务
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