离子减薄仪型号:PI66-GL-2011

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产品名称：离子减薄仪型号:PI66-GL-2011
产品型号：PI66-GL-2011
所属类别：其他仪器仪表
发布时间：2018-01-24
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详细说明

离子减薄仪 型号:PI66-GL-2011 库号：M396359

工作原理
离子减薄制样技术属于离子束加工范畴。其方法是用高能离子束轰击样品表面、高能离子与样品表面原子发生弹性碰撞、样品表面原子能量增大至高于该原子逸出功时，便飞离样品，从而使样品逐渐减薄。离子减薄仪通常用双枪从样品两侧轰击。样品随着支架旋转，使得离子束轰击均匀。
产品描述
适用性广泛，可对金属、非金属、陶瓷、矿物、半导体、骨骼、牙齿等几乎所有固体材料进行精密减薄处理。
产品特点
v 监视系统采用聚光光源
v 减薄过程无离子束遮挡
v 观察系统设计有了防污染系统
v 结构紧凑，体积小，有防误操作系统
v 可获得十分清洁的样品，使得从样品中提取的信息更为真实可靠
技术参数
产品名称
离子减薄仪
离子束加速电压
0-10KV 连续可调
束流密度
大于 200μA/cm
减薄速度 ( 铜)
30μ/h（）
样品对离子束的倾角
5-90°（普通台） 0-90°（精细抛光台）
真空度
5×10-3Pa（不送气）
离子束对样品的倾角
7°（普通试样台） 2°（抛光试样台）
说明：
样品为约100u的铝箔，表面为铝的氧化物。用化学方法或者物理摩擦的方法减薄，都会非常明显的破坏样品表面形貌，甚至改变样品化学成分。
使用GL-2011型离子减薄仪减薄后，在电子显微镜下可以观察到，样品没有任何变形，而且获得完美清晰的样品图像

东方化玻(北京)科技有限公司

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