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电阻率测试仪两探针测试仪(测锗锭专用) 型号:KDY-2
  • 产品名称:电阻率测试仪两探针测试仪(测锗锭专用) 型号:KDY-2
  • 产品型号:KDY-2
  • 所属类别:其他仪器仪表
  • 发布时间:2018-08-02
  • 已获点击:137
详细说明
电阻率测试仪两探针测试仪(测锗锭专用) 型号:KDY-2
库号:M389279 
它适合于测量模截面尺寸是可测量的,而且棒的长度大于横截面线度的有规则的长棒,例如横断面为圆形、正方形、长方形或梯形的单晶或多晶锭。由于两探针法的测量电流是从长棒两端进出,远离电压测量探针,因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应(如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等),对测量的影响较小,因此两探针法的测量一般优于四探针法。特别是对多晶材料的测量,由于多晶晶粒间界处,杂质局部偏析可能导致电阻率较大变化,这种影响对四探针法更为严重,故不推荐用四探针法测量多晶材料的电阻率。
本仪器主要由电气测量部份(简称:主机)、测试台及两探针头组成。仪器的特点是主机配置双数字表,在测量电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的)适时监测全程的电流变化,免除了测量电流/测量电阻率的转换,及时掌控测量电流。主机还提供为0.05%的恒流源,使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关,在测量某些材料时,可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生,更好地保护被测材料。“小游移探针头”,间距为10mm的两探针头探针游移率在0.02~0.05%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机需配用HQ-710C数据处理器或KDY测量系统专用软件,置入必须的数据后,处理器会配合探头在锗锭上移动测量,自动计算、打印出各点的电阻率、电阻率的zui大值、电阻率zui小值
主机技术参数
(1)测量范围:
可测电阻率:锗晶体0.1-100Ω·cm
可测锗锭尺寸:zui大长度700mm;zui大高度50mm;zui大宽度60mm。
(2)恒流源:
输出电流:DC 0.004-100mA 五档连续可调
量程:0.004-0.01mA
0.04-0.10mA
0.4-1.0mA
4.0-10mA
40-100mA
恒流:各档均优于±0.05%
(3)直流数字电压表:
测量范围:0-199.99mV
灵敏度:10μA
基本误差:±(0.004%读数+0.01%满度)
输入阻抗:≥1000MΩ
(4)电阻测量误差:≤0.3%
(5)两探针头:KDT-5
探针间距:10.00±0.02mm
游移率:0.02-0.05%
探针压力:4±1N/单针
(6)供电电源:
AC 220V ±10% 50/60Hz 功率:12W
(7)使用环境:
温度:23±2℃ 相对温度:≤65%
无较强的电场干扰,无强光直接照射。
(8)重量、体积:
主机重量:7.5Kg
体积:390×340×190(单位:mm 长度×宽度×高度)

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