半导体粉末电阻率测试仪型号:XP35FZ-2010库号：M379287

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产品名称：半导体粉末电阻率测试仪型号:XP35FZ-2010库号：M379287
产品型号：XP35FZ-2010
所属类别：其他仪器仪表
发布时间：2019-01-17
已获点击：339

详细说明

主要技术指标：
一、仪器
1. 测量范围：电阻率 10-4 - 10 6 Ω.cm，分辨率 10-6 Ω.cm
2. 测量电压量程：0.2mV、2mV、20mV, 200mV, 2V，分辨率 0.1μV
3. 恒流源量程：1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA、0-100mA可调。
4. 测量误差：±（0.5%读取+2字），在0.2mV时误差±（0.5%读取+5字）
二、粉末测试台
1. 试样粒度：纳米级~40目（标准筛网）
2. 试样容器：内腔Φ16.3±0.1mm
3. 试样高度：16mm~20mm，测量误差±0.1mm
4. 取样压力：8Mpa±0.05Mpa(100kg/cm±0.5kg/cm)
压力量程：0-199kg±0.5kg可调。
5. 显示方式：电阻及电阻率由3 1/2位LED数字显示0~1999。压力由3 1/2位LED数字显示0~199.9，高度由四位LED数字显示，电阻、电阻率、单位、小数点自动显示。
6. 电源：220±10%或110V±10%，由用户选择，50HZ-60HZ，功率60W。
7. 外形尺寸：仪器440mm×139mm×360mm

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东方化玻(北京)科技有限公司

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