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半导体分立器件测试仪 型号:CS2935
  • 产品名称:半导体分立器件测试仪 型号:CS2935
  • 产品型号:CS2935
  • 所属类别:电子测量仪器 > 静电(场)测试仪
  • 发布时间:2022-01-25
  • 已获点击:235
详细说明

半导体分立器件测试仪 型号:CS2935库号:M380093   查看hh
一、产品特点:
测试晶种覆盖面广、测试精高、电参数测试全、速度快、有良好的重复性和-一致性、工作稳定,具有保护系统和被测器件的能力,且具有图示功能。测试仪由计算机操控,测试可存储打印。除具有点测试功能外,还具有曲线扫描功能( 图示仪功能)。系统软件功能全、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定、硬件故障率低,在实际测试应用中各项技术指标均可达到器件手册技术指标二、测试参数:
1:二极管
VF、IR. BVR 随机附件
2.稳压 (齐纳)二极管
VF、IR、BVZ
3.晶体管
Transistor (NPN型/PNP型)
VBE、ICB0、LCE0、 IEB0、 BVCE0、 BWCBO、 BVEBO、 hFE. VCESAT.
VBESAT、VBEON
4.可控硅整流器 (晶闸管)
IGT、VGT、IH、 IL。VTM
5. 场效应管
IGSSF、IGSSR、 IGSSR、 IGSS. VDSON、 RDSON、 VGSTH、IDSS、IDON、 gFS. BVGSS .
6。光电耦合器
VF。IR、CTR、ICE0、 BVCE0、 VCESAT
7.三端稳压器
Vo、Sv. ID、IDV .及国标要求。

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