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便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B
  • 产品名称:便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B
  • 产品型号:TQ04-GUT-6000B
  • 所属类别:专用仪器仪表 > 其他专用仪器仪表
  • 发布时间:2022-12-14
  • 已获点击:208
详细说明

便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B

产品规格

测试范围


54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量测种类


约 1800 种

测试电压


2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间


高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源


交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量


335(宽) x 105(高) x 300(长) mm

约 1.5 公斤

尺寸及重量

便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B

产品规格

测试范围


54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量测种类


约 1800 种

测试电压


2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间


高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源


交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量


335(宽) x 105(高) x 300(长) mm

约 1.5 公斤

尺寸及重量

产品规格

测试范围


54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量测种类


约 1800 种

测试电压


2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间


高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源


交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量


335(宽) x 105(高) x 300(长) mm

约 1.5 公斤

产品规格

测试范围


54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量测种类


约 1800 种

测试电压


2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间


高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源


交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量


335(宽) x 105(高) x 300(长) mm

约 1.5 公斤

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测试范围


54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

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量测种类


约 1800 种

测试电压


2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间


高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源


交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量


335(宽) x 105(高) x 300(长) mm

约 1.5 公斤


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