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详细说明
半导体PN结的物理特性是物理学和电子学的重要基础内容之一。本仪器用物理实验方法,测量PN结扩散电流与电压关系,证明此关系遵循指数布规律,并较地测出玻尔兹曼常数(物理学重要常数之一),使学生学会测量弱电流的一种新方法。同时测量PN结结电压与热力学温度关系,求得该传感器的灵敏度,并近似求得硅材料的禁带宽度。本仪器提供实验物理内容丰富、概念清晰、测量结果准确度高。本仪器主要供大专院校普通物理实验教学用。仪器稳定,结构设计合理,很适用于教学。
技术参数:
1、PID控温:控温范 室温~120℃;控温 ±1℃;
2、加热电流:两档切换,18V,低端8V;
3、稳压电源:0~2V连续可调,三位半数字显示;
4、数字电压表:量程0~2V,0~20V,四位半数字显示;
5、风扇快速降温,工作电压DC12V;
6、电流输出0~1000μA,8档可调 ;
7、可扩展实验,热敏电阻和金属电阻温度特性实验;
8、电压调节采用进口多圈电位器;
9、加热井可同时插入3个传感器。
实验内容:
1、测量PN结扩散电流与结电压关系,通过处理证明此关系遵循指数布规律;
2、测量玻尔兹曼常数;
3、测量PN结结电压与温度的关系,求出结电压随温度变化的灵敏度;
4、求得半导体(硅)材料的禁带宽度。
重量约10kg