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详细说明
光的衍射现象是光的波动性的一种表现,研究光的衍射,不助于加深对光的本性的理解,同时对近代光学技术如 X光晶体衍射、光谱析、息析、光信息处理等实验,也是重要实验基础。本仪器采用可移动读数的光电探测器测量光衍射的光强布,并与理论结果进行比较。
技术参数:
1、半导体激光器,波长650nm,大功率5.0mW,带三位调节架;
2、的半导体激光器电源,亮度可调节;
3、光功率计:四档测量:0~20μW~200μW~2mW~20mW;三位半数码管显示;
4、铝合金光具座:长度1000mm ,度值1mm;
5、光功率计:孔Ф0.5、Ф1、Ф2、Ф3、Ф4、Ф6;缝 0.2、0.3、0.4、0.8、1.2;
6、带横向移动的滑快座:横向移动0~80mm ;
7、划板1块,含(单缝3种尺寸、单丝);
实验内容:
1、用屏观测单缝衍射图样空间布(位置);
2、用可移动光电探测器测量单缝衍射图样的光强布;
3、作单缝衍射光强布图;
重量约10kg