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详细说明
A2855高频缘材料介电常数介质损耗测试系统由916测试装置(夹具)、QBG-3E型高频Q表、和tanδ自动测量控件(装入QBG-3E的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美A150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用QBG-3E数字Q表具有自动计算介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)。
A2855介电常数/介质损耗测试系统系统组成
功能名称: QBG-3E
信号源范DD数字合成信号 10KHZ-70MHz
信号源频率覆盖比 7000:1
信号源频率 6位数 3×10-5 ±1个
Q测量范 1-1000自动/手动量程
Q辨率 4位数,辨率0.1
Q测量工作误差 <5%
电感测量范 4位数,辨率0.1nH 1nH-8.4H , 辨率0.1nH
电感测量误差 <5%
调谐电容 主电容30-550pF
电容直接测量范 1pF~2.5uF
调谐电容误差
辨率 ±1 pF或<1% 0.1pF
谐振点搜索 自动扫描
Q合格预置范 5-1000声光提示
Q量程切换 自动/手动
LCD显示参数 F,L,C,Q,Lt,Ct,tn等
自身残余电感和测试引线电感的
自动扣除功能() 有
大电容值直接测量显示功能() 测量值可达2.5uF
介质损耗系数 万之五
介电常数 千之一
材料测试厚度 0.1mm-10mm
UB接口 支持
2.916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:
固体:材料测量直径Φ38mm 可选;厚度可调小于14mm
液体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)
3.LKI-1电感组
电感No 电感量 准确度% Q值≥ 布电容约略值 谐振频率范 MHz 适合介电常数测试频率
A2855-A
1 0.1μH ±0.05μH 200 5pF 20~70 50MHz
2 0.5μH ±0.05μH 200 5pF 10~37 15MHz
3 2.5μH ±5% 200 5pF 4.6~17.4 10MHz
4 10μH ±5% 200 6pF 2.3~8.6 5MHz
5 50μH ±5% 200 6pF 1~3.75 1.5MHz
6 115μH ±5% 200 6pF 0.75~2.64 1MHz
7 1mH ±5% 150 8pF 0.23~0.84 0.5MHz
8 5mH ±5% 130 8pF 0.1~0.33 0.25MHz
9 14mH ±5% 90 8pF 0.072~0.26 0.1MHz