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/误码测试仪(高配) 型号:IAT-1710E 库号:D326663
  • 产品名称:/误码测试仪(高配) 型号:IAT-1710E 库号:D326663
  • 产品型号:IAT-1710E
  • 产品价格:22500.00
  • 所属类别:仪器仪表 > 其他专用仪器仪表
  • 发布时间:2024-07-15
  • 产品产地:北京
  • 已获点击:95
详细说明
综合接入测试仪/误码测试仪(高配) 型号:IAT-1710E

库号:D326663

通用指标
规格尺寸:216x109x56mm
重量:<1.5kg
显示屏:彩色5LED,480x272像素
操作方式:触摸
存储:2G SD 卡
可充电锂电池:充电时间:3~4 小时
续航时间:大于 5 小时
运行环境:操作温度:-10~50℃
存储温度:-20~70℃
操作湿度:10%~90%
存储湿度:5%~95%
E1接口技术指标:
发送时钟:内时钟,收时钟
时钟拉偏设置:范围:+/-50ppm 分辨率:0.1ppm :+/-15ppm
时钟频偏测试:范围:+/-1000ppm分辨率:0.1ppm:+/-15ppm
信号电平检测:范围:0~37.5dB :2.5dB
接口阻抗:75欧不平衡,120欧平衡
帧结构:非成帧,PCM30,PCM31PCM30CPCM31C
码型:HDB3,AMI
性能分析标准:G.821,G.826,M2100
V系列接口技术指标
V接口类型:V.35,V.24
工作模式:DTEDCE
传输方式:同步
速率:2048K,Nx64K,Nx56K
性能分析标准:G.821
10/100/1000M以太网接口技术指标
帧类型:DIX,802.3SNAP
自定义帧长:40-10000
典型帧长度:64,128,256,512,768,1024,1280,1518
RFC2544测试:吞吐量,时延,丢包率,背对背,
吞吐量测试:0.001Mbps
时延测试:1us
丢包率测试:0.001%
网络层协议类型:IPIPXARPRARPBanyan,DECnetApple TalkDADI自定义
环回层次:物理层,链路层,网络层

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