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库号:D405647
主要技术参数及说明
1 可测片料块料或棒料等。小样品尺寸 4mm×10mm,大平面尺寸和厚度,由所配测试台决定,手持方式不限。
2 .1 探 针 间 距:直线二针分布, 间距 10.0mm。
2.2 探针机械游移率: ±0.5%。
2.3 探 针:镀镍合金,Φ4.0mm。
2.4 压 力: 0~1000g 可调,额定压力约 500g。
三、ST2258B-F01 型薄膜方阻直线四探针 电阻率/方阻直线 2+2+2 mm 针距,有球形尖镀金磷铜合金探针,配以四探针仪器和测试台,用以测试柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO 膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。
基本组成:成有可拆换式探针、探针座、手持式外、测试台连接单元,仪器连接线缆等部件组成。
主要技术参数及说明
1 可测片料块料或棒料等。小样品尺寸 3mm×10mm,大平面尺寸和厚度,由所配测试台决定,手持方式不限。
2 .1 探 针 间 距:直线 2+2+2 mm 针距。
2.2 探针机械游移率: ±0.5%。
2.3 探 针:镀金磷铜合金,Φ0.75mm。
2.4 压 力: 0~500g 可调,额定压力约 400g。
3 探针为可快捷拆换型,方便线频繁使用。
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