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方块电阻测试仪 型号:ST-21
  • 产品名称:方块电阻测试仪 型号:ST-21
  • 产品型号:ST-21
  • 所属类别:环境、环保检测仪器
  • 发布时间:2025-03-24
  • 已获点击:12
详细说明

方块电阻测试仪是一种依照类似的准和美国A..T.M准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

该仪器以大规模集成电路为主要;用基准电源和运算放大器组成高稳流源;带回路正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、高的特点。

特点

1采用大规模集成电路作为仪器的主要部,测量准确稳定,低功耗;

2以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;

3采用单个电池供电,带电池欠压指示;

4体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;

5之手握式探笔,球形探针、镀金探针接触被测材料及保护薄膜

6

带抗静电模块

技术指

测量范

按方块电阻量值大小为二个量程档:

1.方块电阻 1.00~199.99Ω/□;

2.方块电阻 10.0~1999.9Ω/□;

小辨率:0.01Ω/□

恒流源

测量过程误差:≤±0.8%

模数转换器

量程:0~199.99mv;

辨率:10μv;

方式:LCD大屏幕显示;极性,量程均自动显示;小数点同步显示;

测量不确定度

在整个量程范内,测量不确定度≤5%

四探针规格

间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;缘电阻≥500MΩ

电源

9V叠层电池1节

方块电阻测试仪 型号:DH21-ST-21方块电阻测试仪 型号:DH21-ST-21

方块电阻测试仪是一种依照类似的准和美国A..T.M准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

该仪器以大规模集成电路为主要;用基准电源和运算放大器组成高稳流源;带回路正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、高的特点。

特点

1采用大规模集成电路作为仪器的主要部,测量准确稳定,低功耗;

2以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;

3采用单个电池供电,带电池欠压指示;

4体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;

5之手握式探笔,球形探针、镀金探针接触被测材料及保护薄膜

6

带抗静电模块

技术指

测量范

按方块电阻量值大小为二个量程档:

1.方块电阻 1.00~199.99Ω/□;

2.方块电阻 10.0~1999.9Ω/□;

小辨率:0.01Ω/□

恒流源

测量过程误差:≤±0.8%

模数转换器

量程:0~199.99mv;

辨率:10μv;

方式:LCD大屏幕显示;极性,量程均自动显示;小数点同步显示;

测量不确定度

在整个量程范内,测量不确定度≤5%

四探针规格

间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;缘电阻≥500MΩ

电源

9V叠层电池1节


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