薄膜测厚仪型号:C1202HR+P2004MA

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产品名称：薄膜测厚仪型号:C1202HR+P2004MA
产品型号：C1202HR+P2004MA
所属类别：实验室设备
发布时间：2026-06-29
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测量范围：±2.0mm

详细说明

德国马尔Mahr薄膜测厚仪（0.01分辨率） 型号:C1202HR+P2004MA 库号：D410727

设备简介：显示单元 C1202+电感测头P2004MA

本机依据 ISO4593:1993,GB/T6672-2001 等标准设计制造，用于检测薄膜类产品的厚度变化值。

高精度薄膜测厚仪应用范围：

薄膜测厚仪主要用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片等各种材料的厚度测量。应用于薄膜企业、质检机构、研究院校等对薄膜厚度有严格要求的领域。可以实现 4000μm 量程范围内的测量。测量分辨率可达 0.01μm，可实现高要求的测量精度。

电感测头 P2004M 可根据需要换测量弹簧，有 0.25N、0.5N、1N、1.25N、1.5N，本批产品使用0.25N的测力弹簧可供，可满足软质材料的薄膜测量，确保测量准确。Mahr Millimar C1202 HR 薄膜测厚仪可连接计算机，通过在计算机中安装薄膜测厚仪专

用统计分析软件，可实现测量数据手动或自动采集，实时统计分析大值，小值，平均值，偏差值，曲线图等，可实现高频率测量

三、高精度型显示器 Millimar C1202 HR产品特性

?静态测量± A、 ± B 及其所有组合

?动态测量：Max, Min, Max-Min,Max+Min, 均值

?自动侦测模式，可连接两个测量仪(电感测头)

测头型号 P2004MA

测量范围± 2.0 mm / ± 0.079“

下限位 1) – - 2.2 ... 0 mm / -0.09 ... 0“

上限位 1) – 2.2 ... 4.4 mm / 0.09 ... 0.173“

提升/回退 – – 真空提升

电子零点处的测力 0.75 N± 0.15 N

测力增量 mm 0.2 N

灵敏度 0.3 %

重复性 0.1 μm / 4 μin

滞后性 fu 0.5 μm / 20 μin

灵敏度经过修正后的线性

在± 0.1 mm 量程内 –

在± 0.5 mm 量程内 0.4 μm/ 16 μin

在± 1.0 mm 量程内 1.5 μm/ 60 μin

在± 2.0mm 量程内 3.0 μm/ 120 μin

防护等级 DIN VDE 0470 IP64

章节 / EN 60529

缆线长度 2.5 m / 8 ft 3)

配置清单：包含

仪器主机

1台

显示单元C1202(含1702M-HR)

1套

电感测头P2004MA 1个

硬质合金大弧面测头1个陶瓷量面台架(00级)1个脚踏提升器13040/1F 1个

数据线DK-U1，USB(提供免费软件)产品操作说明书3份(各种语言)

东方化玻(北京)科技有限公司

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