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高薄膜测厚仪
  • 产品名称:高薄膜测厚仪
  • 产品型号:M96173​
  • 所属类别:
  • 发布时间:2013-11-18
  • 已获点击:174
详细说明

高薄膜测厚仪((0.1μm) 型号:XT11-DRK-204A     库号:M96173


构成: 由光电传感器、测量座、抬落机构、数显表等部分组成。
特点:检定快速,准确。测量值由数显表直接显示,读数方便可靠,减少人为读数误差;独特的设计使仪器结构稳定性很高,温度稳定性很好;测量重复性好,漂移量很小。可实现任意位置清零、
高薄膜测厚仪(0.1μm) 
产品简介:
薄膜检测仪对各种薄膜测量厚度、均匀性、薄膜弹性模量等,并且可以与计算机连接通讯,实现数据自动处理,从而提高了检验速度,减轻了检测人员的劳动强度。该仪器对环境温度波动不敏感,经济实用,适合于各种薄膜企业的工艺控制和计量检测单位或部门的检测使用。
构成: 由光电传感器、测量座、抬落机构、数显表等部分组成。
特点:检定快速,准确。测量值由数显表直接显示,读数方便可靠,减少人为读数误差;独特的设计使仪器结构稳定性很高,温度稳定性很好;测量重复性好,漂移量很小。可实现任意位置清零、
公/英制转换、预先置数、自动求值和值等多种智能功能;可通过与计算机连接通讯实现测量结果的自动记录、自动处理、打印及统计分析等;对环境温度波动相对不敏感,现有基层计量室不
必提高温控要求即可使用。
主要参数
数显分辨率:0.1μm
示值误差:±(0.4+0.04L)μm
测量范围:0-10mm

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