高频光电导少数载流子寿命测试仪（电脑显示) 型号:LT-100C 库号：D301889

高频光电导少数载流子寿命测试仪（电脑显示) 型号:LT-100C

库号：D301889

该仪器为了能直接读取寿命值编写了软件存入数字存储示波器，这些软件依照少子寿命测量的基本原理编写，同时采用了标准（MF28及MF1535）中推荐的几种读数方法。
该仪器扩大了晶体少子寿命可测范围，除配置了波长为1.07μm的红外发光管外，增加配备了波长为0.904～0.905μm光强的红外激光器，减小了光源的余辉，使晶体（研磨面）可测电阻率低至0.3Ω·cm，寿命可测下限延至0.25μs。
LT-100C型寿命仪配有两种光源电极台，一种波长为1.07μm，适合于测量硅单晶块或棒的体寿命；另一种波长为0.904～0.905μm，适合于测量切割或研磨太阳能硅片的相对寿命，与微波反射法测量条件相近，因此测量值也较接近
参数
（1）仪器测量范围：
少子寿命测量范围：0.25μS～10ms；晶体样品（研磨面）电阻率下限≥0.3Ω·cm，尚未发现电阻率测量上限。
型号：N型或P型单晶或铸造多晶。
（2）光脉冲发生装置
重复频率＞15次/S 脉宽≥10μs
红外光源长波长：1.06～1.08μm 脉冲电流：～16A
红外光源短波长：0.904～0.905μm 脉冲电流：～16A
（3）高频源
频率：30MHZ 低输出阻抗输出功率＞1W
（4）放大器和检波器
频率响应：2HZ～2MHZ
放大倍数：30倍（约）
高频光电导少数载流子寿命测试仪（电脑显示)KT12-LT-100C

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